Лазерный сканирующий микроскоп OLYMPUS LEXT OLS4100

Если Вас интересует цена, наличие, либо возможность получения скидки на Лазерный сканирующий микроскоп OLYMPUS LEXT OLS4100

Просим Вас обращаться по тел. +7 (343) 288-77-71 или отправить запрос на email: nt@ntso.ru

Микроскопы Olympus широко используются для контроля качества и исследований в самых различных отраслях промышленности. Теперь, когда растут требования к точности измерения и расширяется область применения систем визуализации нано-уровня, компания Олимпас выпускает новый LEXT OLS4100. Так Olympus устанавливает новые стандарты в 3D лазерной микроскопии.

Особенности:

- Измерительный конфокальный лазерный сканирующий микроскоп для материалографии. Предназначен для
  наблюдения и анализа поверхностей материалов и микроструктур с максимальным разрешением 120нм в
  плоскости XY и 10нм по оси Z.
- Общий диапазон увеличений: 108х-17280x. Возможность исследования образцов с углом наклона до 85°.
- Представляет собой комбинацию моторизованного исследовательского оптического микроскопа и лазерного
  сканирующего микроскопа. Источниками света LEXT Системы является лазерный диод с длиной волны 405нм
  для лазерного сканирования и светодиодный источник для стандартных оптических исследований на
  микроскопе [BF(светлое поле), POL (поляризованный свет, поляризатор и анализатор встроены в систему),
  DIC (дифференциально-интерференционный контраст).
- Дистанционный контроль функциями посредством программного обеспечения LEXT. Программное обеспечение
  включает в себя широкий диапазон метрологических функций для анализа поверхностей и 2D/3D-структур.
  Автоматическая фокусировка, центровка (парфокальность), освещенность.
- Оптический зум - 1x - 8x (шаг 0.1х). Объективы: 2,5х, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x. (комлпектуются в зависимости от задач).
- Поле зрения в режиме сканирования - максимум 2,56мм x 2,56мм - минимум 18мкм x 18мкм. Снабжен
  антивибрационной системой. Предлагается с механическим или моторизованным ультразвуковым столом .
  Позволяет производить панорамную сшивку 500 изображений.

Точность и воспроизводимость системы:

- Воспроизводимость вертикальная при 50х: меньше чем 3σn-1= 0,012µm. Разрешение шкалы по оси Z: 0,8нм.
  Точность вертикальная: 0,2+L/100мкм.  Горизонтальная воспроизводимость при объективе 100х: 
  3σn-1= 0,02мкм.  Точность горизонтальная (XY) ±2%. 

Методы исследования:   

- 1D: лазерное сканирование: быстрое линейное измерение шероховатости (до 100 мм), быстрое измерение
  толщины прозрачных материалов (от 1 мкм до 2 мм)
- 2D: Цветное (CCD камера), цветное +ДИК, цветное+поляризация, лазерное сканирование, лазерное
  сканирование+ДИК
- 3D:цветное/черно-белое, с ДИК или без ДИК. Возможность отображения полноцветного изображения с
  высоким разрешением, (наложение цвета на лазерное сканирование), отображение цветами карты высот,
  а также черно-белого изображения с высоким разрешением (4096х4096).

Возможности измерения:

- Многофункциональное программное обеспечение позволяет получать 2D и 3D изображения исследуемого
  образца. 7 режимов измерения: площадь/объем (area/volume), измерения частиц (particle), измерение
  шероховатости (surface roughness), измерения слоев и тонких пленок (film), автоматическое измерение
  края (auto edge detection) и геометрические измерения (under geometric).